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通过XRD测织构的数据来分析试样的残余应力和位错密度?
编辑:商辉自动化设备(上海)有限公司  时间:2019-08-20

XRD测位错密度,可以近似的取半波宽来确定。

其实只是个比较的测量方法,也就是说,你可以通过不同材料或者不同处理制度得到的XRD峰值半波宽来比较位错密度的大小。

如果需要精确得到位错密度,还需要在TEM下测量伯格斯矢量

忘了说残余应力了。

我只在X射线应力仪上做过,衍射仪应该道理是一样的。

在使用衍射仪测量应力时,试样与探测器θ-2θ关系联动,属于固定ψ法。通常ψ=0°、15°、30°、45°测量数次。

当ψ=0时,与常规使用衍射仪的方法一样,将探测器(记数管)放在理论算出的衍射角2θ处,此时入射线及衍射线相对于样品表面法线呈对称放射配置。然后使试样与探测器按θ-2θ联动。在2θ处附近扫描得出指定的HKL衍射线的图谱。当ψ≠0时,将衍射仪测角台的θ-2θ联动分开。先使样品顺时针转过一个规定的ψ角后,而探测器仍处于0。然后联上θ-2θ联动装置在2θ处附近进行扫描,得出同一条HKL衍射线的图谱。

最后,作2θ-sin2ψ的关系直线,最后按应力表达σ=K·Δ2θ/Δsin2ψ= K·M求出应力值,

通过半高宽可知位错密度,但是需要有model来算。如果你们组里没人搞这个,建议你还是放弃吧,自己肯定做不出来。


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